A instrumentação de análise química sofisticada fica disponível para uso de campo depressa. A partir de 2011, os instrumentos de fluorescência de raios X estão disponíveis em modelos portáteis, bem como unidades baseadas em laboratório. Os dados obtidos desses instrumentos só são úteis se os dados forem interpretáveis. O XRF é amplamente utilizado em análises geológicas, reciclagem e esforços de remediação ambiental. Os fundamentos da interpretação de dados de FRX envolvem a consideração de sinais que surgem da amostra, artefatos de instrumento e fenômenos físicos. Os espectros dos dados XRF permitem que um usuário interprete os dados qualitativa e quantitativamente.
Plote os dados de XRF em um gráfico de intensidade versus energia. Isso permite que o usuário avalie os dados e observe rapidamente os maiores elementos percentuais presentes na amostra. Cada elemento que fornece um sinal XRF aparece em um nível de energia exclusivo e é característico desse elemento.
Observe que você só irá plotar intensidades para linhas que geram linhas K e /ou L. Essas linhas se referem ao movimento de elétrons entre orbitais dentro do átomo. Amostras orgânicas não exibirão nenhuma linha porque as energias liberadas são muito baixas para transmitir através do ar. Elementos de número atômico baixo exibem apenas linhas K porque as energias das linhas L também são baixas demais para serem detectadas. Elementos de alto número atômico exibem apenas linhas L porque as energias das linhas K são muito altas para detecção pelo poder limitado de dispositivos portáteis. Todos os outros elementos podem dar respostas para ambas as linhas, K e L.
Meça a proporção de linhas K (alfa) e K (beta) para elementos para confirmar que eles estão em uma proporção de 5 para 1. Essa relação pode variar um pouco, mas é típico para a maioria dos elementos. A separação dos picos nas linhas K ou L é geralmente da ordem de alguns keV. A razão para as linhas L (alfa) e L (beta) é tipicamente de 1 para 1.
Use o seu conhecimento da amostra e dos espectros para determinar se há sobreposição de espectros de elementos similares. Os espectros de dois elementos que fornecem respostas na mesma região de energia podem se sobrepor ou modificar a curva de intensidade nessa região.
Leve em consideração a resolução do seu analisador de campo. Os instrumentos de resolução mais baixa não conseguem resolver dois elementos vizinhos na tabela periódica. As diferenças entre os níveis de energia desses dois elementos podem se confundir com instrumentos que têm baixa resolução.
Elimine sinais que são artefatos de instrumento dos espectros. Esses sinais referem-se a sinais que surgem de artefatos dentro do projeto do instrumento ou podem ser devidos à construção daquele instrumento em particular. Os efeitos de retrodifusão da amostra geralmente causam picos muito amplos em um espectro. Estes são típicos de amostras de baixa densidade.
Localize e remova de consideração quaisquer instâncias de picos de Rayleigh. Estes são um grupo de picos de baixa intensidade que freqüentemente ocorrem em amostras densas. Na maioria das vezes, esses picos aparecem em um instrumento específico para todas as amostras.
