O Microscópio Eletrônico de Transmissão (TEM) e o microscópio eletrônico de varredura (MEV) são métodos microscópicos para visualização de espécimes extremamente pequenos. TEM e SEM podem ser comparados em métodos de preparação de espécimes e aplicações de cada tecnologia.

TEM

Ambos os tipos de microscópios eletrônicos bombardeiam o espécime com elétrons. O TEM é adequado para estudar o interior dos objetos. A coloração fornece contraste e o corte fornece amostras ultrafinas para exame. TEM é bem adequado para exame de vírus, células e tecidos.

SEM

As amostras examinadas por SEM requerem um revestimento condutor como ouro-paládio, carbono ou platina para coletar o excesso de elétrons que obscureça a imagem. O SEM é adequado para visualizar a superfície de objetos, como agregados e tecidos macromoleculares.

Processo TEM>

Uma pistola de elétrons produz um fluxo de elétrons que são focalizados por uma lente condensadora. O feixe condensado e os elétrons transmitidos são focalizados por uma lente objetiva em uma imagem em uma tela de imagem de fósforo. Áreas de imagem mais escuras indicam que menos elétrons foram transmitidos e que essas áreas são mais espessas.

Processo SEM

Como no TEM, um feixe de elétrons é produzido e condensado por uma lente. Esta é uma lente do curso no SEM. Uma segunda lente forma os elétrons em um feixe fino e estreito. Um conjunto de bobinas varre o feixe de maneira semelhante à televisão. Uma terceira lente direciona o feixe para a seção desejada da amostra. O feixe pode ficar em um ponto especificado. O feixe pode escanear toda a amostra 30 vezes por segundo.