Uma equipe de pesquisa liderada pelo Prof. Lu Qingyou dos Institutos de Ciências Físicas de Hefei (HFIPS) da Academia Chinesa de Ciências (CAS) alcançou um avanço ao criar um Microscópio de Força Magnética (MFM) que pode gerar imagens de materiais sensíveis ao ar sem exigir proteção de superfície revestimentos.



Publicado em Revisão de Instrumentos Científicos , esta invenção destaca um avanço significativo na instrumentação científica.

O estudo das características magnéticas em materiais bidimensionais de van der Waals é uma promessa imensa para aplicações em spintrônica e armazenamento de dados de alta densidade devido às suas estruturas magnéticas em nanoescala e escala atômica. No entanto, a sensibilidade do ar torna difícil caracterizar diretamente as propriedades magnéticas intrínsecas desses materiais.

Nesta pesquisa, o sistema MFM compacto aborda esse desafio, fornecendo um ambiente controlado para imagens de materiais sensíveis ao ar com precisão e confiabilidade.

“É pequeno”, disse o Dr. Zhang Yuchen, membro da equipe, “e como o microscópio pode ser desmontado, podemos conduzir todo o processo em um gás inerte com a ajuda de um porta-luvas”.

Ela está se referindo a uma câmara selada destacável exclusiva da sonda MFM. Ao mover amostras sensíveis de um porta-luvas para um ambiente de baixa temperatura e alto campo magnético, ele pode protegê-las efetivamente da exposição ao ar.

Isso garante a integridade e limpeza da superfície da amostra, permitindo a captura de imagens de alta resolução que revelam as estruturas magnéticas intrínsecas de materiais como o triiodeto de cromo (CrI₃ ).

O desenvolvimento bem-sucedido deste sistema MFM assistido por porta-luvas marca um avanço significativo na tecnologia de microscopia magnética. "Isso abre caminho para avanços futuros na pesquisa de materiais magnéticos e dispositivos de armazenamento magnético de próxima geração", disse o Dr.

Mais informações: Yuchen Zhang et al, microscópio de força magnética assistido por Glovebox para estudar amostras sensíveis ao ar em um ímã livre de criogênio, Review of Scientific Instruments (2024). DOI:10.1063/5.0186587
Fornecido pelos Institutos de Ciências Físicas de Hefei, Academia Chinesa de Ciências