As linhas obtidas em um método de difração em pó são explicadas pela lei de Bragg , uma lei fundamental na difração de raios-X. Aqui está como:

Lei de Bragg:

A lei de Bragg afirma que, quando os raios-X são incidentes em um cristal, eles serão difratados (espalhados) em ângulos específicos que dependem do comprimento de onda dos raios X e do espaçamento entre os planos de átomos no cristal. Este relacionamento é expresso pela seguinte equação:

nλ =2d sin θ

onde:

* n é um número inteiro (1, 2, 3, ...) representando a ordem da difração.
* λ é o comprimento de onda dos raios-X.
* d é o espaçamento entre os planos de cristal.
* θ é o ângulo de difração.

Método de difração em pó:

Em um método de difração em pó, é usada uma amostra de pó fina do material. O pó contém cristalitos de orientação aleatória. Quando os raios-X são brilhados no pó, os cristalitos espalham os raios X em vários ângulos, dependendo de suas orientações.

Explicação das linhas:

* Interferência construtiva: Quando os raios X difratados de diferentes cristalitos interferem construtivamente (isto é, suas ondas se reforçam), é observado um pico de difração. Essa interferência construtiva ocorre quando a diferença de caminho entre os raios-X difratada de dois planos adjacentes é um múltiplo integral do comprimento de onda (conforme definido pela lei de Bragg).
* ângulo e espaçamento: O ângulo em que ocorre um pico está diretamente relacionado ao espaçamento entre os planos de cristal (d) de acordo com a lei de Bragg.
* Intensidade : A intensidade de um pico é proporcional ao número de planos com esse espaçamento específico. Mais aviões com esse espaçamento levarão a um pico mais intenso.
* Impressão digital exclusiva: Cada material possui um arranjo único de átomos e, portanto, um conjunto único de espaçamentos interplanares (D). Isso resulta em um padrão de difração exclusivo, como uma impressão digital, que pode ser usada para identificar o material.

Resumo:

Em essência, as linhas em um método de difração em pó representam os ângulos nos quais a interferência construtiva de raios-X ocorre devido ao espaçamento específico entre os planos de átomos no material. Cada linha corresponde a um conjunto único de planos de cristal e seu espaçamento, fornecendo uma impressão digital da estrutura cristalina do material.