Fotografias das amostras arqueológicas. Crédito:University of Leicester
Uma técnica pioneira de raios-X que pode analisar artefatos de qualquer forma ou textura de uma forma não destrutiva foi desenvolvida por uma equipe internacional de pesquisadores liderada pela Universidade de Leicester.
A tecnica, que foi apresentado em um artigo publicado na revista Acta Crystallographica A , usa difração de raios-X (XRD) para determinar informações de fase cristalográfica em artefatos com uma precisão muito alta e sem causar danos ao objeto que está sendo digitalizado.
Usando a técnica, os pesquisadores podem identificar pigmentos em pinturas e em objetos pintados - que poderiam ser aplicados no futuro para ajudar a reprimir obras de arte e artefatos falsificados e verificar a autenticidade.
A pesquisa sugere que a técnica não invasiva também pode eliminar a frequente necessidade de compromisso entre as questões arqueológicas que podem ser resolvidas e os métodos analíticos disponíveis para fazê-lo.
Dr. Graeme Hansford, do Departamento de Física e Astronomia da Universidade de Leicester, explicou:"A capacidade de fazer análises de XRD não destrutivas de alta qualidade de artefatos de patrimônio cultural é muito empolgante para mim e representa o culminar de vários anos de trabalho.
"O que torna este método realmente único é que a forma e a textura da amostra se tornam imateriais. Espero que estudos futuros façam contribuições significativas para determinar a proveniência de uma série de objetos arqueológicos, e esses dados fornecerão informações de contexto vitais para as coleções do museu.
"Em pinturas, o tipo de pigmento usado frequentemente produz insights úteis sobre os métodos de produção e a organização de indústrias antigas, bem como restringir a possível data de fabricação. Isso pode ajudar a determinar se a proveniência de um artefato é a suposta. "
Crédito:Diamond Light Source
O desenvolvimento da nova técnica de XRD está sendo liderado pelo Dr. Hansford, junto com o Dr. Stuart Turner (um aluno de PhD em Leicester no momento da pesquisa) e os professores Andrew Shortland (Centro de Análise Arqueológica e Forense, Cranfield University) e Patrick Degryse (Center for Archaeological Science, K.U. Leuven, Bélgica).
A nova técnica é insensível ao formato da amostra, tolerando até mesmo superfícies marcadamente não planas e texturizadas.
Consequentemente, pode ser aplicado sem preparação da amostra e, portanto, é totalmente não destrutivo, em contraste com os métodos convencionais de XRD.
Essas características são ideais para a análise do patrimônio cultural e artefatos arqueológicos para os quais a manutenção da integridade do objeto é de suma importância.
A eficácia da técnica de XRD foi recentemente comprovada em uma configuração de alta resolução no síncrotron Diamond Light Source. Um síncrotron produz feixes de luz altamente intensos, principalmente raios-X, que pode ser usado para sondar a matéria em uma ampla variedade de maneiras.
A Diamond Light Source do Reino Unido é nacional, instalação de síncrotron de última geração situada no Harwell Science and Innovation Campus em Oxfordshire.
Professor Andrew Shortland, do Centro de Análise Arqueológica e Forense da Cranfield University, disse:"Os cientistas arqueológicos estão continuamente cientes de que a coleta de amostras para análise de objetos raros e históricos deve ser minimizada, ou melhor ainda eliminado completamente. Esta nova técnica não destrutiva tem o potencial de abrir novas linhas de pesquisa e responder a novas perguntas sobre nossos objetos históricos e arqueológicos mais valiosos e interessantes. A Cranfield University está muito feliz em participar de um projeto tão importante. "
Professor Patrick Degryse do Center for Archaeological Science, K.U. Leuven, Bélgica, disse:"Em um contexto de museu, o desenvolvimento de novos, meios precisos de análise não invasiva são uma necessidade absoluta. Muitas vezes, é a única abordagem tolerada pelos curadores. Em um contexto arqueológico, técnicas in-situ portáteis e não destrutivas, imediatamente aplicável no campo, é requerido. Isso evita a amostragem, deixe o artefato intocado, e obedecer às restrições de exportação, muitas vezes estritas. "