A microscopia transitória de femtosegundo é uma ferramenta importante para estudar propriedades de transporte ultrarrápido de estados excitados em amostras de estado sólido. A maioria das implementações limita-se a fotoexcitar um único ponto limitado por difração na amostra e rastrear a evolução temporal da distribuição de portadores resultante, cobrindo assim uma área de amostra muito pequena.

Recentemente, cientistas da Itália e da Espanha demonstraram como aumentar enormemente o campo de visão de microscópios ultrarrápidos usando holografia fora do eixo para construir uma câmera lock-in totalmente óptica, que desacopla a velocidade de desmodulação do sinal do quadro máximo do detector. avaliar.

Neste trabalho original, publicado na Ultrafast Science , os pesquisadores demonstraram a imagem transitória simultânea de dezenas de nanoobjetos individuais, onde a fotoexcitação de todo o campo de visão era desejável. No contexto de amostras de estado sólido onde é necessária excitação limitada por difração, não estava claro como a nova técnica holográfica poderia ser aplicada. Idealmente, seria gerado um conjunto de pontos de excitação limitados por difração cobrindo todo o campo de visão, de modo que vários pontos em uma grande área de amostra pudessem ser sondados simultaneamente.

O artigo, "Visualização de alta sensibilidade da difusão de portador ultrarrápida por microscopia holográfica de campo amplo", demonstra como realizar esse recurso criando imagens de uma matriz pinhole na posição da amostra. Isto não é apenas útil para obter informações estatísticas sobre a fotofísica da amostra, mas também, para amostras homogêneas, o sinal de todos os pontos pode ser calculado para aumentar enormemente a relação sinal-ruído.

Mais informações: Martin Hörmann et al, Visualização de alta sensibilidade de difusão de portador ultrarrápida por microscopia holográfica de campo amplo, Ultrafast Science (2023). DOI:10.34133/ultrafastscience.0032
Fornecido pela Ultrafast Science