Recentemente, pesquisadores do Instituto de Óptica e Mecânica Fina de Xangai (SIOM) da Academia Chinesa de Ciências (CAS) propuseram um novo método de medição do coeficiente eletro-óptico (EO) com base no χ ⁽²⁾ tecnologia óptica não linear para medir os coeficientes EO lineares de KH ₂ PO ₄ (KDP) e K (H _{1 − x} D _x ) ₂ PO ₄ (DKDP) precisamente. Resultados relevantes foram publicados em Optics Express em 18 de janeiro, 2021.

Os estudos e aplicações atuais do efeito EO dos cristais da família KDP se concentram principalmente em KDP e DKDP com alto teor de deutério. Para os cristais KDP parcialmente deuterados, seus coeficientes EO são relatados esporadicamente, embora tenham aplicações cruciais em muitos campos. Enquanto isso, os métodos de medição de coeficiente EO existentes são baseados principalmente no efeito óptico linear, que exige que o laser mantenha estritamente a estabilidade da polarização em todo o sistema de medição.

Neste estudo, os pesquisadores apresentaram um novo método utilizando o χ ⁽²⁾ tecnologia óptica não linear. Esta medição depende apenas do processo não linear em materiais não lineares, e outros processos de transferência não o afetarão.

Com base neste método, os coeficientes EO lineares de uma série de diferentes cristais KDP deuterados foram medidos com precisão, e foi fornecida uma fórmula de conclusão para determinar os coeficientes EO lineares de cristais DKDP com diferentes conteúdos de deutério.

Além disso, a estabilidade da energia de geração de quarto harmônico de saída (FHG) pode ser bastante melhorada usando as propriedades EO dos cristais, que fornece referências importantes para a geração de laser ultravioleta profundo e expansão da aplicação de cristais da família KDP no campo da tecnologia de laser e óptica não linear.