Observando como um polímero covalente se desenvolve usando microscópio de tunelamento
A microscopia de varredura por tunelamento (STM) é uma técnica de imagem poderosa que permite aos cientistas visualizar a superfície dos materiais em nível atômico. Pode ser usado para estudar a formação e o crescimento de polímeros covalentes, que são cadeias de átomos mantidos juntos por ligações covalentes.
Em um experimento típico de STM, uma ponta de metal afiada é colocada muito perto da superfície de uma amostra. Uma tensão é aplicada entre a ponta e a amostra, e uma corrente flui entre elas. Esta corrente é muito sensível à distância entre a ponta e a amostra, portanto, ao digitalizar a ponta através da superfície, pode ser criada uma imagem tridimensional da superfície.
STM tem sido usado para estudar o crescimento de uma variedade de polímeros covalentes, incluindo polietileno, polipropileno e poliestireno. Todos esses polímeros são formados pela polimerização de monômeros, que são pequenas moléculas que contêm uma ligação dupla. Quando estes monômeros são aquecidos ou expostos a um catalisador, eles reagem entre si para formar uma cadeia de átomos.
As imagens STM destes polímeros mostram que as cadeias crescem de forma muito regular. Os monômeros são adicionados à cadeia, um de cada vez, e as cadeias crescem em linha reta. Isso ocorre porque as ligações covalentes entre os átomos são muito fortes e impedem que as cadeias se ramifiquem ou se dobrem.
STM também tem sido utilizado para estudar os defeitos em polímeros covalentes. Estes defeitos podem ser causados por uma variedade de factores, tais como impurezas nos materiais de partida, ou pelas condições de reacção. As imagens STM desses defeitos podem ajudar os cientistas a entender como eles se formam e como afetam as propriedades dos polímeros.
Em resumo, o STM é uma ferramenta poderosa para estudar a formação e o crescimento de polímeros covalentes. Permite aos cientistas visualizar os polímeros a nível atómico e compreender como são formados e como são afetados por defeitos.