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  • Nova técnica de microscopia de força atômica com resolução temporal captura fenômenos ultrarrápidos induzidos por luz
    (a) Esquema do sistema FM-AFM resolvido no tempo desenvolvido. H.M.:Meio espelho, JK F. F.:Flip-flop JK, Filtro SP:filtro passa-curta. (b) Esquema de modulação de tempo de atraso. Ajustando o tempo da sequência de tensão H/L de JK F.F., a modulação do tempo de atraso entre (H, tempo de atraso =td ) e (L, tempo de atraso =td , ref ), conforme mostrado na figura, ocorre. (c) Características de ressonância medidas para determinar o fator Q (∼10.000). (d) Imagem CCD da configuração de medição. (e) Imagem STM resolvida atomicamente de um WSe2 em massa amostra. Crédito:Expresso de Física Aplicada (2023). DOI:10.35848/1882-0786/ad0c04

    Apesar do progresso notável na ciência e na tecnologia, os rápidos avanços expuseram limitações em muitos domínios tecnológicos. Um desafio premente em dispositivos semicondutores, que sustentam comunicações de ultra-alta velocidade e inteligência artificial (IA), é o desenvolvimento de dispositivos de alto desempenho com uma estrutura básica de 2 nanômetros (nm).



    Nesta escala, estruturas de defeitos de átomo único e pequenas perturbações no comportamento dos elétrons afetam consideravelmente os fenômenos macroscópicos, desempenhando um papel crucial na funcionalidade do dispositivo. Portanto, compreender e controlar fenômenos físicos e químicos de alta velocidade em escala nanométrica é vital para o desenvolvimento de dispositivos de alto desempenho.

    A equipe de pesquisa desenvolveu anteriormente um método de microscopia de tunelamento de varredura resolvida no tempo (STM), combinando STM com tecnologia laser, para obter resolução espacial em nanoníveis e resolução temporal de femtossegundos. Este método tem sido fundamental para elucidar várias dinâmicas fotoexcitadas. No entanto, a dependência do STM no fluxo de corrente elétrica entre a sonda e a amostra limita a sua aplicação a materiais condutores.

    Em seu estudo, publicado na Applied Physics Express , a equipe desenvolveu um novo sistema AFM resolvido no tempo, melhorando sua operabilidade ao fundir o AFM com sua tecnologia exclusiva de pulso de laser ultracurto. Este desenvolvimento permite a medição da dinâmica de alta velocidade em uma gama mais ampla de materiais, incluindo isoladores, com resolução nanométrica.

    Uma abordagem única para neutralizar a expansão térmica da sonda e da amostra devido à irradiação do laser permitiu a aquisição de sinais resolvidos no tempo com uma relação sinal-ruído (SN) excepcionalmente alta. Além disso, a oscilação do laser é controlada eletricamente para melhorar a operabilidade.

    A capacidade do AFM de medir uma gama diversificada de objetos posiciona a tecnologia desenvolvida nesta pesquisa para ter aplicações generalizadas, estendendo-se além da pesquisa acadêmica para indústrias, medicina e outros campos. Prevê-se que facilite a descoberta de novos princípios e a génese de novos campos, alargando consideravelmente o âmbito da exploração.

    Mais informações: Hiroyuki Mogi et al, Microscopia de força resolvida no tempo usando o método de modulação de atraso-tempo, Applied Physics Express (2023). DOI:10.35848/1882-0786/ad0c04
    Fornecido pela Universidade de Tsukuba



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