(Phys.org) —Um cientista da University of Warwick concebeu um novo método para melhorar a medição das superfícies de componentes essenciais para uso em aplicações de alta precisão e nanotecnologia.

Com a exigência de desempenho cada vez maior de peças cada vez menores, a ênfase deve ser colocada em suas superfícies para produzir produtos de alto valor.

Duas consequências emergentes são o uso de padrões e estruturas em superfícies, e formas complexas, todos os quais devem ser rigorosamente controlados a fim de otimizar áreas como lubrificação, adesão e desempenho óptico.

A chave para essas melhorias é a medição dessas superfícies para fabricar com alta precisão com o mínimo de defeitos - um grande problema para as técnicas de medição tradicionais.

Uma nova ideia concebida pelo professor David Whitehouse da Escola de Engenharia promete ser um primeiro passo para abordar esses novos problemas de medição.

Ele desenvolveu uma técnica baseada na filtragem gaussiana, mas tendo um novo estratagema matemático que é descrito nos Proceedings of the Royal Society. A técnica é semelhante à análise de imagem, exceto que leva em consideração a geometria, em vez de apenas variações de intensidade.

Ele disse:"sua técnica aprimora as características nítidas que estão inerentemente presentes em superfícies estruturadas de alta tecnologia, como bordas, ranhuras e limites de uma forma que permite que sua geometria detalhada e posição sejam mais bem determinadas do que os métodos anteriores. Também pode facilitar a detecção e caracterização de defeitos nas superfícies. "

Aplicações de superfície estruturadas e de forma livre em uma ampla gama de tamanhos, por exemplo, na óptica, semicondutor, turbina e em nanotecnologia poderia, se o método realizar seu potencial, beneficiar diretamente.