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    Encontrado modelo para RRAM baseado em materiais 2-D

    Memória de acesso aleatório resistiva feita de eletrodos de grafeno e dielétrico hexagonal de nitreto de boro. Crédito:Copyright American Institute of Physics 2017. Reproduzido com permissão dos autores.

    O grafeno e os materiais bidimensionais (2-D) relacionados têm gerado grande interesse e investimento nos últimos anos. Contudo, a quantidade de dispositivos comerciais baseados em materiais 2-D disponíveis no mercado ainda é muito baixa.

    O grupo de pesquisa liderado pelo Dr. Mario Lanza da Soochow University (China) está liderando um esforço global para investigar as propriedades dos dielétricos em camadas. Em sua recente investigação, publicado no jornal Materiais 2-D , O Prof. Lanza e colegas de trabalho sintetizaram uma memória de acesso aleatório resistiva (RRAM) usando estruturas de van der Waals de grafeno / hexagonal-nitreto de boro / grafeno (G / h-BN / G).

    Além disso, eles desenvolveram um modelo compacto para descrever com precisão seu funcionamento. O modelo é baseado na abordagem não linear de Landauer para condutores mesoscópicos, nesse caso, filamentos de tamanho atômico formados dentro do sistema de materiais 2-D. Além de fornecer excelentes resultados gerais de ajuste (que foram corroborados no log-log, gráficos log-linear e linear-linear), o modelo é capaz de explicar a dispersão dos dados obtidos de ciclo a ciclo em termos das particularidades dos caminhos filamentares, principalmente sua altura de barreira de potencial de confinamento.

    O desenvolvimento de modelos teóricos para descrever o funcionamento de dispositivos eletrônicos é uma etapa essencial para a simulação de dispositivos / sistemas, que é essencial antes da produção em massa do dispositivo. O dispositivo selecionado neste caso, o dispositivo RRAM, é a tecnologia mais promissora para o futuro armazenamento de informações de alta densidade.


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