p Crédito:Universidade de Manchester
p Um físico da Universidade de York desenvolveu um novo método que pode prever de forma realista o comportamento das correntes elétricas à medida que passam pelos materiais. p Até agora, os cientistas acreditavam que, em materiais bidimensionais, os elétrons sempre "localizados" - em outras palavras, pararam repentinamente à medida que se espalharam por impurezas na estrutura cristalina.
p Agora pesquise, liderado pelo Dr. Aires Ferreira do Departamento de Física da Universidade, mostrou que em um certo tipo de grafeno a "localização eletrônica" pode ser superada.
p O grafeno é uma única camada de átomos de carbono dispostos em uma estrutura em forma de favo de mel e é extremamente forte. É considerado um supermaterial e cientistas de todo o mundo estão pesquisando se ele poderia ser usado em circuitos avançados e outros dispositivos eletrônicos.
p O Dr. Ferreira disse que o novo método, que é capaz de avaliar o impacto de bilhões de átomos pela primeira vez, pode ajudar a abrir caminho para mais rapidez, dispositivos mais eficientes.
p Ele disse:"É uma virada de jogo e tem implicações além da física. Este novo método pode ser benéfico no design de novos materiais, adaptando-os para aplicações em dispositivos de computação 'mais verdes' ".
p "Uma vez que pode ser aplicado para estudar a resposta elétrica de estruturas cristalinas de tamanho real, pode ajudar os cientistas a adaptar os materiais para um processamento mais rápido e eficiente de informações no futuro. "
p "Embora não saibamos quais materiais serão usados em dispositivos de próxima geração, agora temos um método capaz de simular o que acontecerá com sinais elétricos em materiais complexos."
p Ele acrescentou:"Se pudermos prever como as correntes se propagam, podemos construir circuitos melhores e processadores mais rápidos; isso poderia revolucionar os computadores."
p A pesquisa, financiado pela Royal Society, envolveu a colaboração com o Professor Eduardo Mucciolo da University of Central Florida e foi publicado em
Cartas de revisão física .