p Ver as propriedades em escala fina de materiais relevantes para a nanotecnologia é um desafio importante que atualmente só pode ser enfrentado em condições ideais. Imagens coerentes de raios-X prometem expandir muito a gama de materiais e ambientes nos quais essas propriedades importantes podem ser observadas. Usuários das divisões de Ciência de Materiais e Nanociência e Tecnologia da Argonne, em colaboração com o Grupo de Microscopia de Raios-X no Center for Nanoscale Materials e pesquisadores da Advanced Photon Source, KAIST, Northern Illinois University, e a Universidade de Melbourne, relataram o desenvolvimento de uma nova técnica de imagem de raios-X, pticografia de projeção de Bragg de raios-X coerente, e sua aplicação ao estudo de estruturas em nanoescala em filmes finos ferroelétricos. p Sob certas condições, filmes finos ferroelétricos (usados, por exemplo, em memórias de computador especializadas) formam redes de domínios em nanoescala com polarizações locais distintas que são difíceis de gerar imagens porque suas propriedades são controladas pelo ambiente ao redor do filme. A visualização não invasiva desses domínios polares sob condições de contorno realistas é a chave para o desenvolvimento contínuo de dispositivos ferroelétricos.

p O método de pticografia de Bragg emprega um feixe de raios-X nanofocado de alta penetração para criar imagens de difração coerentes sobrepostas espacialmente, que, neste estudo, foram usados ​​para visualizar a polarização do domínio em nanoescala em um filme fino ferroelétrico epitaxialmente tenso de PbTiO ₃ . Com uma resolução espacial demonstrada de menos de seis nanômetros, esta nova técnica de imagem quantitativa abre caminho para a visualização da morfologia do domínio e do comportamento dentro de heteroestruturas ferroelétricas sob condições relevantes.