Comparando TEM e SEM:Como os microscópios eletrônicos de transmissão e varredura diferem
Por Harvey Sells, atualizado em 24 de março de 2022
A microscopia eletrônica de transmissão (TEM) e a microscopia eletrônica de varredura (MEV) são ferramentas poderosas para visualizar estruturas em escala nanométrica. Embora ambos dependam de feixes de elétrons, eles diferem marcadamente na preparação de amostras, princípios de imagem e aplicações típicas.
TEM
TEM excita uma amostra com um feixe de elétrons focado que passa através da amostra. Como os elétrons devem atravessar a amostra, o MET requer seções ultrafinas (normalmente <100 nm de espessura) e geralmente usa coloração com metais pesados para melhorar o contraste. Essa abordagem torna o TEM ideal para visualizar a arquitetura interna de vírus, células e seções de tecido em resolução subnanométrica.
SEM
SEM, por outro lado, varre um feixe de elétrons focado sobre a superfície de uma amostra. Para evitar o acúmulo de carga e detectar elétrons retroespalhados ou secundários, as amostras são revestidas com uma fina camada condutora – geralmente ouro-paládio, carbono ou platina. SEM é excelente em revelar a topografia da superfície e é rotineiramente usado para examinar agregados macromoleculares, superfícies de tecidos e materiais de engenharia.
Processo TEM
Um canhão de elétrons gera um feixe de alta energia que é primeiro condensado por uma lente condensadora. O feixe estreito resultante é direcionado através da amostra; elétrons que não são absorvidos formam uma imagem em uma tela de fósforo por meio de uma lente objetiva. As áreas que parecem mais escuras correspondem a regiões mais espessas por onde passam menos elétrons.
Processo SEM
SEM também começa com um canhão de elétrons e uma lente condensadora, mas o feixe é subsequentemente focado em um ponto fino por uma segunda lente. Bobinas magnéticas então rastreiam o feixe através da amostra, enquanto uma terceira lente direciona os elétrons para a área de interesse. Ao ajustar o tempo de permanência e a taxa de varredura (normalmente 30 varreduras por segundo), o SEM captura imagens de superfície de alta resolução.
