Ser canhoto ou destro é uma propriedade de simetria que muitos objetos macroscópicos também exibem e que é de imensa importância, particularmente para a bioatividade de moléculas orgânicas. A quiralidade também é relevante para propriedades físicas ou químicas, como atividade óptica ou enantiosseletividade de sólidos cristalinos ou de suas superfícies. No caso de fases metálicas quirais, supercondutividade não convencional e estados magnéticos incomuns ordenados estão ligados à quiralidade da estrutura cristalina subjacente. Apesar desta conexão entre quiralidade e as propriedades de um material, a detecção é muitas vezes difícil porque as variantes estruturais para canhotos e destros podem se cancelar ou pelo menos enfraquecer o efeito quiralidade.

Nem sempre é possível preparar materiais quirais que contenham apenas uma das duas variantes estruturais. Mais frequentemente, ambas as variantes estruturais estão presentes em um material policristalino. Para investigações sistemáticas, portanto, é importante ser capaz de determinar a lateralidade com boa resolução espacial.

Em um novo estudo, é mostrado que o método EBSD (Electron Backscatter Diffraction) pode ser usado para determinar a distribuição de variantes estruturais enantiomórficas não apenas em materiais policristalinos de fases multicomponentes, mas também para a estrutura elementar quiral β-Mn. A diferença entre as estruturas cristalinas multicomponentes e a estrutura elementar é, portanto, de particular importância, desde o método de difração de raios-X, que geralmente é usado para determinar a destreza, não fornece nenhuma informação sobre a destreza de uma estrutura elementar quiral, como β-Mn.

EBSD é um método estabelecido para determinar a orientação local do cristal em um material policristalino por meio de linhas Kikuchi. A investigação EBSD é realizada com um microscópio eletrônico de varredura. É, portanto, um método comparativamente simples para determinar as propriedades cristalográficas locais de um material policristalino. As linhas Kikuchi são formadas por difração dos elétrons em uma forma fortemente inclinada, superfície plana. Contudo, os métodos convencionais de avaliação do padrão EBSD não permitem nenhuma conclusão sobre a destreza de uma fase. Apenas a consideração do espalhamento múltiplo de elétrons dinâmico nos cálculos de simulação produz diferenças nas linhas de Kikuchi dos dois enantiomorfos. Uma atribuição da lateralidade é feita com base na melhor concordância do padrão experimental EBSD com um dos dois padrões simulados.

Estas investigações foram realizadas nas fases β-Mn e no composto multicomponente estruturalmente relacionado Pt2Cu3B. A distribuição dos enantiomorfos foi determinada a partir do padrão EBSD para ambas as fases, enquanto a difração de raios-X nos cristais de corte Xenon-FIB (feixe de íons focado) permitiu uma atribuição para a fase ternária apenas. A determinação baseada em EBSD da distribuição dos enantiomorfos em um material policristalino simplifica significativamente a preparação de materiais com destreza definida.