A pesquisa conecta a estrutura porosa do silício e sua capacidade de capturar a luz incidente
Uma observação de microscópio eletrônico de amostras de silício poroso. Um novo artigo examina o efeito da estrutura porosa no aprisionamento de luz. Crédito:SciencePOD
O mundo está à beira de um grande desastre ecológico e a necessidade de fontes de energia renovável nunca foi tão urgente. Talvez a fonte mais significativa de energia renovável inexplorada seja, sem surpresa, o Sol. Não é de admirar que grande parte do foco da pesquisa de energia renovável se concentre na energia solar.
Um novo artigo publicado no
The European Physical Journal D examina as mudanças na estrutura porosa do silício para torná-lo menos reflexivo e, portanto, um material melhor para a tecnologia de absorção solar. O artigo é de autoria de Daohan Ge, Zhou Hu, Zhiwei Fang, Chao Ni e Liqiang Zhang do Institute of Intelligent Flexible Mechatronics, Jiangsu University, China, e Shining Zhu do National Laboratory of Solid State Microstructures, Nanjing University, China.
No artigo, os autores apontam que o silício poroso pode ser usado como um bom material de camada de retenção de luz, o que pode efetivamente reduzir a refletividade óptica e melhorar a eficiência de aplicação óptica de seus dispositivos com foco no método de ataque eletroquímico para preparação de silício poroso porque de sua eficiência e natureza barata.
Atualmente, a refletividade do silício poroso preparado usando métodos eletroquímicos é de cerca de 5 a 10 por cento, sendo a menor refletividade de 4,7 por cento para a luz na faixa de comprimento de onda de 300 a 1.000 nanômetros.
Outras pesquisas investigaram as qualidades de captura de luz desse silício, mas onde este estudo difere é o fato de a equipe vincular essa qualidade à estrutura porosa do silício.
Assim, a equipe usou o método de diferença no domínio do tempo finito (FDTD) para calcular e comparar a refletividade da superfície de estruturas de silício poroso com diferentes tamanhos de poros.
O que os pesquisadores dizem que descobriram é que a estrutura porosa de silício, quando preparada sob os parâmetros de corrosão ideais, pode atingir uma refletividade média tão baixa quanto 2,3% para a luz na faixa de comprimento de onda incidente de 300 a 1000 nm.
Eles descobriram que tamanhos de poros de 300 a 700 nm podem atingir menor refletividade, acrescentando que isso aponta o caminho para o projeto e preparação de futuras estruturas de silício poroso de baixa refletividade.
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